Уникальное отечественное решение для 3D-контроля поверхности.
Для атомной отрасли, микроэлектроники и машиностроения.

> О приборе

Прибор работает по методу интерферометрии с частично-когерентным светом, формируя 3D-модель поверхности на мониторе с высокой точностью измерений.

По совокупности характеристик не имеет отечественных и зарубежных аналогов

Разрешение по глубине свыше 0,05 нм

В структуре прибора используется атомно-гладкое зеркало (АГЗ) и оригинальные алгоритмы и программы. Благодаря этому достигнут «измерительный прорыв»: разрешение по глубине при измерении рельефа улучшено в десятки раз – до десятков пикометров

МНП-1 позволяет измерять высоту нанорельефа поверхности в один атом

Измерение
микрорельефа

Измерение
нанорельефа

Область измерения

увеличение 5x

2,2 мм х 1,4 мм

увеличение 10x

1,1 мм х 0,7 мм

увеличение 20x

0,55 мм х 0,35 мм

Диапазон измерения высоты

Разрешение по высоте

до 19 мм

увеличение 5x

увеличение 10x

увеличение 20x

до 10 мм

до 150 нм

до 2,5 мм

~ 1 мкм

~ 1 нм

Предусмотрено 2 режима
работы для максимальной универсальности прибора

Для поверхностей высокого класса чистоты

Диапазон до 150 нм
Разрешение ~ 1 нм

Режим НАНО

Для «грубых» поверхностей


Диапазон до 19 мм
Разрешение ~ 1 мкм

Режим Микро

Внедрение прибора в производственный цикл — это существенное повышение качества продукции и переход на новый метрологический уровень.

бесконтактный способ измерения
может использоваться для работы с любыми образцами

Неразрушающий контроль

на разные типы морфологии измеряемых поверхностей

Широкие возможности настройки

результаты измерений в пределах 10-15 секунд

Высокое быстродействие

графический интерфейс для работы с многоплановыми 3D-представлениями результатов измерения

Высококачественный интерфейс

для увеличения эффективности

Автоматизация процесса измерения

для повышения качества продукции непосредственно
в процессе производства

Интеграция в производственные линии

вариативность комплектации,
возможность адаптации ПО

Адаптация под задачи

от команды разработчиков
из Новосибирского Академгородка

Гарантии и сервис

замена импортного оборудования,
отсутствие санкционных рисков

Отечественная разработка

Также прибор может использоваться в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности, в оптическом производстве, в машиностроении и прецизионном приборостроении.

Сканирование поверхности монеты

Нанометрология

Измерение шероховатости поверхностей

Контроль изделий с поверхностью

Автоматическая сшивка изображений

Измерение толщины покрытий и плёнок

Микродефектоскопия

Исследование наноструктур и наноматериалов

Автоматическая сшивка изображений

Sysoev E., Kosolobov S., Kulikov R., Latyshev A., Sitnikov S, Vykhristyuk I.

Сысоев Е.В., Выхристюк И.А., Куликов Р.В, Поташников А.К., Степнов Л.М.

Сысоев Е.В., Латышев А.В.

> О разработчике

Институт — ведущий центр Сибирского отделения РАН, эксперт в области лазерных и измерительных технологий, прецизионных систем высокого разрешения, систем технического зрения и неразрушающего контроля, оптики трехмерных объектов.

Разработки Института успешно внедрены на предприятиях ОАО «РЖД», АК «АЛРОСА», «Росатом»,
а также в лабораториях СО РАН и университетов.

С 2021 года Институт участвует в разработке проектов класса Megasience - ЦКП СКИФ и Миллиметрон.

Конструкторско-технологический
институт научного приборостроения

Разрабатываем уникальное контрольно-измерительное
и технологическое оборудование для научных
и промышленных предприятий

Институт обладает уникальным опытом создания уникальных единичных и мелкосерийных наукоемких систем и устройств «под ключ».

За более чем 50 лет деятельности Институт разработал множество систем и изделий для широкого круга заказчиков. Высокая научная экспертиза, собственное производство, сервисное и гарантийное обслуживание обеспечивают долгосрочное и успешное сотрудничество с отраслевыми лидерами

Заполните форму и мы свяжемся с Вами
для формирования коммерческого предложения
и записи на демонстрацию работы прибора